Built-in testing of integrated circuit wafers

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Rangarajan, Sampath (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Fussell, Donald (VerfasserIn), Malek, Miroslaw (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Austin, Tex. Univ. 1987
Schriftenreihe:	TR / University of Texas at Austin, Department of Computer Sciences 87-27
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