Thin film characterisation by advanced X-ray diffraction techniques

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaften:	Istituto nazionale di fisica nucleare Laboratori nazionali di Frascati (BerichterstatterIn), School on X-Ray Diffraction from Polycristalline Materials (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Cappuccio, Giorgio (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Frascati LNF 1996
Schriftenreihe:	LNF 96/049 (IR)
Schlagworte:	Konferenzschrift
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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