Properties of amorphous silicon and its alloys

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft:	Institution of Electrical Engineers (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Searle, Tim (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	London INSPEC 1998
Schriftenreihe:	EMIS datareviews series 19
Schlagworte:	Silicon > Silicon alloys > Amorphous semiconductors > Silicium > Amorpher Zustand
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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