The certification of 100 mm diameter silicon resistivity SRMs 2541 through 2547 using dual-configuration four-point probe measurements

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Ehrstein, J. R. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Croarkin, M. C. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Washington U.S. Gov. Print. Off. 1997
Schriftenreihe:	Standard reference materials 131
Schlagworte:
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!