Reliable and efficient pattern matching using an affine invariant metric

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Hagedoorn, M. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Veltkamp, R. C. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Utrecht Univ. 1997
Schriftenreihe:	Technical report UU-CS / Department of Computer Science, Utrecht University 1997-33
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