A statistical approach to the analysis of dielectric breakdown strength of thin insulating films

Zugl.: Trondheim, Univ., Diss., 1976

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Kristiansen, K. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Trondheim SINTEF 1976
Schriftenreihe:	ELAB Report STF44 A76131
Schlagworte:	Hochschulschrift
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