Protocol conformance testing using unique input/output sequences

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Sun, Xiao (BerichterstatterIn), Shen, Yinan (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Singapore u.a. World Scientific 1997
Schriftenreihe:Advanced series in electrical and computer engineering 12
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