Surface analysis of polymers by XPS and static SIMS

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Briggs, David (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Cambridge u.a. Cambridge Univ. Press 1998
Schriftenreihe:	Cambridge solid state science series
Schlagworte:	Polymers > Surfaces > X-ray spectroscopy > Secondary ion mass spectrometry > Polymere > Oberflächenanalyse > Röntgen-Photoelektronenspektroskopie > Sekundärmassenspektrometrie
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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