VLSI test VTS; Symposium. presented papers

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	IEEE Transactions On Computer-Aided Design Of Integrated Circuits And Systems 14(1995)5. S. 529-575
Körperschaft:	VLSI test (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Maly, W. (BerichterstatterIn), Zorian, Y. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Veröffentlicht:	1995
Schlagworte:
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Beschreibung
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