Testverfahren in der Mikroelektronik Methoden und Werkzeuge ; mit 27 Tabellen

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Daehn, Wilfried (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Berlin, Heidelberg, New York, Barcelona, Budapest, Hong Kong, London, Mailand, Paris, Santa Clara, Singapur, Tokio Springer 1997
Schriftenreihe:	Mikroelektronik
Schlagworte:	Electronic circuits > Testing > Integrated circuits > Lehrbuch > Digitale integrierte Schaltung > Testbarkeit > Fehlererkennung > Selbsttest > Logische Schaltung > Testmuster > Algorithmus
Online Zugang:	Inhaltstext
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