Schnelle Simulation der Verlustleistung und der Zuverlässigkeit von hochintegrierten CMOS-Schaltkreisen auf Gatterebene

Zugl.: München, Techn. Univ., Diss., 1996

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Eisenmann, Wolfgang (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Aachen Shaker 1996
Ausgabe:	Als Ms. gedr.
Schriftenreihe:	Berichte aus der Elektrotechnik
Schlagworte:	Hochschulschrift > CMOS-Schaltung > VLSI > Verknüpfungsglied > Verlustleistung > Zuverlässigkeit
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