A detailed analysis on the manifestations of faults in single and double BJT BiCMOS logic gates

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Menon, Sankaran M. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Jayasumana, Anura P. (VerfasserIn), Malaiya, Yashwant K. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Fort Collins, Colo. Colorado State Univ. 1993
Schriftenreihe:	Technical report / Department of Computer Science, Colorada State University 93-122
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