Bestimmung möglicher Fabrikationsfehler aus dem Schaltungslayout

Zugl.: Karlsruhe, Univ., Diss., 1995 u.d.T.: Bestimmung realistischer Fehlermöglichkeiten aus dem Layout hochintegrierter CMOS-Schaltungen

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Spiegel, Gerald (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Hamburg Kovač 1996
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