Particle characterization in technology 1 Applications and microanalysis

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Beddow, John Keith (HerausgeberIn)
Format: UnknownFormat
Veröffentlicht: Boca Raton, Fla. CRC Press 1986
Ausgabe:3. print
Schriftenreihe:CRC series on fine particle science and technology
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Beschreibung
Beschreibung:246 S
ISBN:0849357845
0-8493-5784-5