Degradation von MOS-Bauelementen durch optische Generation von Ladungsträgern

Zugl.: Berlin, Techn. Univ., Diss., 1995

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Scharf, Stefan (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Berlin Hahn-Meitner-Institut 1995
Schriftenreihe:	Berichte des Hahn-Meitner-Instituts (HMI-B) 530
Schlagworte:	Hochschulschrift > Forschungsbericht
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