Development of x-ray beam profile monitor based on in-house grown crystal and application in electron beam imaging

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	DAE Solid State Physics Symposium (64. : 2019 : Jodhpur) DAE Solid State Physics Symposium 2019 ; B
1. Verfasser:	Tyagi, Mohit (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Sarkar, P. S. (VerfasserIn), Sengar, R. S. (VerfasserIn), Kumar, Ashwani (VerfasserIn), Jagannath (VerfasserIn), Kamewar, A. K. (VerfasserIn), Kumar, Ajay (VerfasserIn), Maurya, N. K. (VerfasserIn), Soni, R. K. (VerfasserIn), Kumar, Pankaj (VerfasserIn), Pal, Manoj K. (VerfasserIn), Singh, A. K. (VerfasserIn), Ravisankar, E. (VerfasserIn), Madhusoodanan, K. (VerfasserIn), Puntambekar, T. A. (VerfasserIn), Dwivedi, Jishnu (VerfasserIn), Gadkari, S. C. (VerfasserIn)
Pages:	2019
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2020
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