(Invited) In-Depth Understanding of the Key Contributors to the Total Flicker Noise in Advanced Logic Devices

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Symposium "Semiconductor Process Integration" (13. : 2023 : Göteborg) Semiconductor Process Integration 13
1. Verfasser:	Cretu, B. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Tahiat, A. (VerfasserIn), Veloso, A. (VerfasserIn), Simoen, E. (VerfasserIn)
Pages:	13
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2023
Schlagworte:
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!