METROLOGICAL PERFORMANCES OF CURRENT TRANSFORMERS UNDER AMPLITUDE MODULATED CURRENTS

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:IMEKO TC10 Conference "Testing, Diagnostics & Inspection as a Comprehensive Value Chain for Quality & Safety" (2019 : Berlin) Testing, diagnostics and inspection as a comprehensive value chain for quality and safety
1. Verfasser: Chen, Yeying (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: D'Avanzo, Giovanni (VerfasserIn), Femine, Antonio Delle (VerfasserIn), Gallo, Daniele (VerfasserIn), Landi, Carmine (VerfasserIn), Luiso, Mario (VerfasserIn), Mohns, Enrico (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2019
Schlagworte:
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!