Abstrakte Verhaltensmodellierung und Zustandsüberwachung integrierter Schaltungen hinsichtlich Umgebungs- und Degradationseinflüssen

Dissertation, Universität Bremen, 2024

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Taddiken, Maike (VerfasserIn)
Körperschaft:	Universität Bremen (Grad-verleihende Institution)
Weitere Verfasser:	Paul, Steffen (AkademischeR BetreuerIn), Gräb, Helmut (AkademischeR BetreuerIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Bremen 2024
Schlagworte:	Zuverlässigkeit > Verhaltensmodellierung > CMOS > Reliability > aging > Integrated Circuit > Monitoring > Hochschulschrift
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