Reflection electron microscopy and spectroscopy for surface analysis

Reflection electron microscopy and spectroscopy for surface analysis

Literaturverz. S. 419 - 430

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Wang, Zhong Lin (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Cambridge u.a. Cambridge Univ. Press 1996
Ausgabe:1. publ.
Schlagworte:
Materials > Microscopy > Surfaces (Technology) > Analysis > Reflection electron microscopy > Reflexionselektronenmikroskopie > RHEED > Oberflächenanalyse > Abbildung > Werkstoff
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
Verlagsangaben
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Beschreibung
Zusammenfassung:Literaturverz. S. 419 - 430
Beschreibung:Includes bibliographical references and index
Beschreibung:XIX, 436 S
Ill., graph. Darst
ISBN:0521482666
0-521-48266-6