Reflection electron microscopy and spectroscopy for surface analysis

Literaturverz. S. 419 - 430

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Wang, Zhong Lin (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Cambridge u.a. Cambridge Univ. Press 1996
Ausgabe:	1. publ.
Schlagworte:	Materials > Microscopy > Surfaces (Technology) > Analysis > Reflection electron microscopy > Reflexionselektronenmikroskopie > RHEED > Oberflächenanalyse > Abbildung > Werkstoff
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis Verlagsangaben
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