Automated Critique of Early Programming Antipatterns

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	ACM Technical Symposium on Computer Science Education (50. : 2019 : Minneapolis, Minn.) SIGCSE'19 ; Book 2 of 2
1. Verfasser:	Ureel, Leo C. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Wallace, Charles (VerfasserIn)
Pages:	19
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2019
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