Entwicklung interner Testmethoden für zeitaufgelöste Untersuchungen an Hochgeschwindigkeitsschaltkreisen auf der Grundlage der Laser-Scanning-Mikroskopie

Jena, Univ., Diss., 1994

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Hempel, Klaus (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	1994
Schlagworte:	Hochschulschrift > Integrierte Schaltung > Hochgeschwindigkeit > OBIC-Verfahren
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