Identification of External Defects on Fruits Using Deep Learning

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	IbPRIA (10. : 2022 : Aveiro) Pattern recognition and image analysis
1. Verfasser:	Aguiar, Henrique Tavares (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Vasconcelos, Raimundo C. S. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2022
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