Entwicklung und Erprobung kapazitiver Messverfahren für Tieftemperaturuntersuchungen an Halbleitern

Braunschweig, Techn. Univ., Fak. f. Maschinenbau u. Elektrotechnik, Diss., 1973

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Hoyer, Wolfgang (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	1973
Schlagworte:	Hochschulschrift
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