DETC2020-22263 A Two-Stage Multi-Fidelity Design Optimization for K-mer-Based Pattern Recognition (KPR) in Image Processing

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	ASME International Design Engineering Technical Conferences & Computers and Information in Engineering Conference (2020 : Online) Proceedings of the ASME International Design Engineering Technical Conferences & Computers and Information in Engineering Conference - 2020 ; Volume 11, B
1. Verfasser:	Yao, Yu-Ta (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Wu, Yu-Wei (VerfasserIn), Lin, Po Ting (VerfasserIn)
Pages:	2020
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2020
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