Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS ; mit 29 Tabellen

Literaturangaben

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Grasserbauer, Manfred (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Dudek, Hans J. (VerfasserIn), Ebel, Maria F. (VerfasserIn), Dudek, Hans Joachim (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Berlin Akad.-Verl. 1986
Schlagworte:	Sekundärionen-Massenspektrometrie > Auger-Spektroskopie > Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Literaturangaben
Beschreibung:	Orig.-Ausg. erschien im Springer Verl., Berlin
Beschreibung:	VIII, 300 S. graph. Darst. 25 cm
ISBN:	3055000595 3-05-500059-5