IPACK2020-2589 Degradation of Gallium Nitride-Based Hall-Effect Sensors in High Temperature Environments

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	ASME International Technical Conference on Packaging and Integration of Electronic and Photonic Microsystems (2020 : Online) Proceedings of the ASME International Technical Conference and Exhibition on Packaging and Integration of Electronic and Photonic Microsystems - 2020
1. Verfasser:	Krone, Alexis (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Alpert, Hannah (VerfasserIn), Shetty, Satish (VerfasserIn), Senesky, Debbie G. (VerfasserIn), Salamo, Gregory (VerfasserIn), Huitink, David (VerfasserIn)
Pages:	2020
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2020
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