Increased Critical Thickness for Strained SiGe on Ge-on-Si(111)

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Pacific Rim Meeting on Electrochemical and Solid State Science (2020 : Online) (9.) SiGe, Ge, and Related Compounds: Materials, Processing, and Devices 9
1. Verfasser:	Wgatsuma, Y. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Alam, M. M. (VerfasserIn), Okada, K. (VerfasserIn), Hoshi, Y. (VerfasserIn), Yamada, M. (VerfasserIn), Hamaya, K. (VerfasserIn), Sawano, K. (VerfasserIn)
Pages:	9
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2020
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