Thermal Calculation of Gas-Insulated Bus Include Current-Carrying Friction Induced Contact Degradation Effect

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	China Electrotechnical Society (16. : 2021 : Peking) The proceedings of the 16th Annual Conference of China Electrotechnical Society ; Volume 3, set 2
1. Verfasser:	Shupeng, Xue (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Xiangyu, Guan (VerfasserIn), Yuequan, Wen (VerfasserIn), Kaiming, Cai (VerfasserIn), Jiang, Liu (VerfasserIn), Zhipeng, Chen (VerfasserIn)
Pages:	16
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2022
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