Low-Quality DanMu Detection via Eye-Tracking Patterns

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	KSEM (15. : 2022 : Singapur) Knowledge science, engineering and management ; Part 3
1. Verfasser:	Liu, Xiangyang (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	He, Weidong (VerfasserIn), Xu, Tong (VerfasserIn), Chen, Enhong (VerfasserIn)
Pages:	3
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2022
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