Activity for Failure Analysis Ability Improvement as AN LSI Manufacturer - Focusing on the Detection of Failed Parts on LSI Chips

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Symposium on Reliability and Maintainability (16. : 1986 : Tokio) 16th Symposium on Reliability and Maintainability
1. Verfasser:	Nikawa, Kiyoshi (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Yuasa, Hirokazu (VerfasserIn), Hatanaka, Shigemi (VerfasserIn), Hosoi, Hiroyuki (VerfasserIn), Nakagiri, Masaru (VerfasserIn)
Pages:	16
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	1986
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Beschreibung
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