Reliability Assessment of Semiconductor Devices Based on Field Data (Failure Data Analysis of Fixed Time Censoring)

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Symposium on Reliability and Maintainability (8. : 1978 : Tokio) 9th Symposium on Reliability and Maintainability
1. Verfasser:	Miura, Isamu (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Nishii, Tateki (VerfasserIn)
Pages:	9
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	1979
Schlagworte:
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Beschreibung
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