A Multi-layered Approach for Tailored Black-Box Explanations

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	EDL-AI (2021 : Online) Pattern recognition ; Part 3
1. Verfasser:	Henin, Clément (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Métayer, Daniel Le (VerfasserIn)
Pages:	3
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2021
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