Time-Resolved Imaging of VLSI Circuits using a Single-Point Single-Photon Detector and a Scanning Head

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	International Symposium for Testing and Failure Analysis (45. : 2019 : Portland, Or.) ISTFA 2019
1. Verfasser:	Stellari, Franco (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Song, Peilin (VerfasserIn), Iwak, Yoshitaka (VerfasserIn), Kim, Stanley (VerfasserIn), Villalobos, Manuel (VerfasserIn)
Pages:	2019
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2019
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