Analysis of Defect-Free Hot Filament CVD-Grown 3C-SiC

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	International Conference on Silicon Carbide and Related Materials (18. : 2019 : Kyōto) Silicon carbide and related materials 2019
1. Verfasser:	Zeghbroeck, B. Van (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Brow, R. (VerfasserIn), Borsa, T. (VerfasserIn), Bobela, D. (VerfasserIn)
Pages:	2019
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2020
Schlagworte:
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Keine Ergebnisse!