UV and Gate Stress Induced Defects in Amorphous Indium Gallium Zinc Oxide Thin Film Transistors and Self-Repair

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Pacific Rim Meeting on Electrochemical and Solid State Science (2020 : Online) (15.) Thin Film Transistors 15 (TFT 15)
1. Verfasser:	Jiang, J. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Kuo, Y. (VerfasserIn)
Pages:	15
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2020
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