Lokale quantitative Phasenanalyse an zweiphasigen TiAl(Cr)-Legierungen mittels analytischer Transmissionselektronenmikroskopie

Hamburg-Harburg, Techn. Univ., Diss., 1994

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Pfullmann, Thorsten (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Wagner, Richard (BerichterstatterIn), Mecking, Heinrich (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	1994
Schlagworte:	Hochschulschrift > Titanlegierung > Aluminiumlegierung > Chrom > Phasenanalyse > Durchstrahlungselektronenmikroskopie
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Hamburg-Harburg, Techn. Univ., Diss., 1994
Beschreibung:	X, 167 S Ill., graph. Darst