Lokale quantitative Phasenanalyse an zweiphasigen TiAl(Cr)-Legierungen mittels analytischer Transmissionselektronenmikroskopie

Hamburg-Harburg, Techn. Univ., Diss., 1994

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Pfullmann, Thorsten (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Wagner, Richard (BerichterstatterIn), Mecking, Heinrich (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: 1994
Schlagworte:
Hochschulschrift > Titanlegierung > Aluminiumlegierung > Chrom > Phasenanalyse > Durchstrahlungselektronenmikroskopie
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