The Complexity of Testing Cryptographic Devices on Inpuı Faults

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:International Conference on Network and System Security (15. : 2021 : Tientsin) Network and System Security
1. Verfasser: Ikramov, Alisher (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Juraev, Gayrat (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2021
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