Optimum Test Case Generation for Programs without Loops

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	International Symposium on Reliability and Maintainability (20 : 1990 : Tokio) International Symposium on Reliability and Maintainability, 1990-Tokyo
1. Verfasser:	OHBA, Mitsuru (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	ADACHI, Akeo (VerfasserIn)
Pages:	1990-
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	1990
Schlagworte:
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Keine Ergebnisse!