Testability Analysis Technique for Commercial off the Shelf Designs

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:International Symposium on Reliability and Maintainability (20 : 1990 : Tokio) International Symposium on Reliability and Maintainability, 1990-Tokyo
1. Verfasser: RIES, Mark C. (VerfasserIn)
Pages:1990-
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 1990
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