Focal spot characterization of an industrial X-ray CT scanner

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	International Symposium on Digital Industrial Radiology and Computed Tomography (9. : 2019 : Fürth) International Symposium on Digital Industrial Radiology and Computed Tomography
1. Verfasser:	Probst, G. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Hou, Q. (VerfasserIn), Pauwels, R. (VerfasserIn), Boeckmans, B. (VerfasserIn), Xiao, Y. (VerfasserIn), Dewulf, W. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2019
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