New Concepts for the Measurement of Focal Spot Parameters of Nano- and Microfocus X-Ray Tubes

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	International Symposium on Digital Industrial Radiology and Computed Tomography (9. : 2019 : Fürth) International Symposium on Digital Industrial Radiology and Computed Tomography
1. Verfasser:	Ewert, U. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Jaenisch, G.-R. (VerfasserIn), Deresch, A. (VerfasserIn), Bircher, B. A. (VerfasserIn), Meli, F. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2019
Schlagworte:
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