XRM-Il nanoCT SEM based computed tomography

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	International Symposium on Digital Industrial Radiology and Computed Tomography (9. : 2019 : Fürth) International Symposium on Digital Industrial Radiology and Computed Tomography
1. Verfasser:	Lutter, F. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Dremel, K. (VerfasserIn), Engel, J. (VerfasserIn), Althoff, D. (VerfasserIn), Zabler, S. (VerfasserIn), Westphal, N. (VerfasserIn), Hanke, R. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2019
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