THE LATEST FEATURES OF HEAT SHOCK TESTING EQUIPMENT AND IHERMAL EFFECTS ON SEMICONDUCTORS - STUDY ON THE DIFFERENCE IN THE EFFFECTS THAT TWO DIFFERENT TYPES OF HEATING MEDIA (AIR OR LIQUID) HAVE ON SEMICONDUCTOR DEVICES

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Symposium on Reliability and Maintainability (18. : 1988 : Tokio) 18th Symposium on Reliability and Maintainability
1. Verfasser:	KOBAYASHI, Yoshikazu (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	KAWAL, Hironari (VerfasserIn)
Pages:	18
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	1988
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