FAILURE ANALYSIS OF IC BREAKDOWN BY SURGE

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Symposium on Reliability and Maintainability (19. : 1989 : Tokio) 19th Symposium on Reliability and Maintainability
1. Verfasser:	TSUTSUMI, Nobutoyo (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	OTA, Ken-ichiro (VerfasserIn), O, Goichi (VerfasserIn)
Pages:	19
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	1989
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Beschreibung
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