ELECTRO/STRESS MIGRATION FAILURE OF ALUMINUM THIN FILM

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Symposium on Reliability and Maintainability (19. : 1989 : Tokio) 19th Symposium on Reliability and Maintainability
1. Verfasser: NISHIKUBO, M. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: ONOE, M. (VerfasserIn), MIYAMOTO, K. (VerfasserIn), MAKI, N. (VerfasserIn), MATSUMOTO, H. (VerfasserIn)
Pages:19
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 1989
Schlagworte:
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Keine Beschreibung verfügbar.