$X-ray diffraction line profile analysis of Ce substituted Gd2Zr2O7 system (Gd2-xCex) Zr2O7 (x= 0,2)$

X-ray diffraction line profile analysis of Ce substituted Gd2Zr2O7 system (Gd2-xCex) Zr2O7 (x= 0,2)

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	International Conference on Recent Trends in Theoretical and Applied Physics (2020 : Quilon) International Conference on Recent Trends in Theoretical and Applied Physics, ICRTTAP
1. Verfasser:	Srijith, S. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Asitha, L. R. (VerfasserIn), Aparna, L. R. (VerfasserIn), Chandran, A. B. Amala (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2021
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