Reciprocal Space Map Measurement of Ceramics Thin Films for Unequal Lattice Change at High Temperature

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	International Conference on the Physical Properties and Application of Advanced Materials (13. : 2018 : Hanoi) Physical properties and application of advanced materials
1. Verfasser:	Saiki, A. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Miwa, S. (VerfasserIn), Hashizume, T. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2020
Schlagworte:
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Keine Ergebnisse!